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| 锗的红外折射率精密测量 | |
| 作者姓名： | 米宝永 |
| 作者单位： | 1.中国科学院长春光学精密机械研究所 长春,130022 |
| 摘 要： | 利用所研制的KGZ-Ⅱ型高精度光电折射仪,在5～10.6μm的光谱范围内,测量了由北京有色金属研究总院研制的锗的折射率,并与红外色散公式计算的结果进行了比较,分析了影响测量准确度的各项主要因素,给出了具有±3×10-4准确度的测量结果。 |
| 关 键 词： | 红外 折射率 精密测量 |
| 收稿时间： | 1998-04-24 |
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