一种低剖面强耦合宽带相控阵天线的设计

设计一种低剖面强耦合相控阵天线，该天线在2.5倍频带宽内可在方位±45°范围内进行扫描，天线单元VSWR<3,天线剖面高度约为0.15λ₀;加工一个8×8天线子阵样件进行测试和验证。测试结果表明该天线带宽宽、扫描范围大，具有良好的极化特性，满足工程需求。