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水平沉铜树脂塞孔板盖帽不良影响因素研究
引用本文:王佐,李清春,杨磊,王辉,黄剑超.水平沉铜树脂塞孔板盖帽不良影响因素研究[J].印制电路信息,2023(S2):195-200.
作者姓名:王佐  李清春  杨磊  王辉  黄剑超
作者单位:胜宏科技(惠州)股份有限公司
摘    要:树脂塞孔板通过沉铜板电等流程制作,将塞孔位置镀上一层铜,用于满足PCB后续产品的焊接,当沉铜不良,则会导致后续树脂上无法镀上所需的铜,影响PCB焊接,而影响沉铜不良的因素主要有化铜活性、活化Pd不良、沉铜药水与树脂不匹配等因素,文章主要通过实验和过程确认,验证树脂塞孔沉铜不良的品质影响因素,为能更好地解决因盖帽不良造成的报废,现从多个角度分析影响树脂塞孔盖帽不良的因素,找出最佳生产参数,有效地实现了树脂塞孔盖帽不良问题的改善。

关 键 词:树脂塞孔  水平沉铜  盖帽电镀
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