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反应溅射CN薄膜的场发射特性
引用本文:林洪峰,谢二庆,张军,颜小琴,陈支勇.反应溅射CN薄膜的场发射特性[J].半导体学报,2006,27(13):211-213.
作者姓名:林洪峰  谢二庆  张军  颜小琴  陈支勇
作者单位:兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院,兰州 730000
摘    要:利用反应射频溅射方法在硅单晶衬底上沉积碳氮(CN)薄膜. 原子力显微镜(AFM)研究结果表明,CN薄膜表面覆盖有纳米CN锥状物,所制备的CN薄膜具有良好的场发射特性,最大发射电流密度达到~10mA/cm2,并且未出现电流饱和现象. 薄膜表面的CN纳米锥有利于薄膜的场发射,重复测量结果表明,CN薄膜的发射特性得到改善和提高.

关 键 词:反应溅射  CN薄膜  场发射

Field Emission from Reaction Sputtering CN Films
Lin Hongfeng,Xie Erqing,Zhang Jun,Yan Xiaoqin and Chen Zhiyong.Field Emission from Reaction Sputtering CN Films[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(13):211-213.
Authors:Lin Hongfeng  Xie Erqing  Zhang Jun  Yan Xiaoqin and Chen Zhiyong
Affiliation:School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China
Abstract:
Keywords:reaction sputtering  CN films  field emission
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