| 半导体器件鉴定试验技术的研究 --从纠正一项错误鉴定结论谈起 |
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| 引用本文： | 马卫东,申丽丽,朱彦彬,李志国.半导体器件鉴定试验技术的研究 --从纠正一项错误鉴定结论谈起[J].半导体技术,2005,30(9):39-42. |
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| 作者姓名： | 马卫东 申丽丽 朱彦彬 李志国 |
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| 作者单位： | 北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;海军七○一检测中心,北京,100016;海军七○一检测中心,北京,100016;北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022 |
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| 摘 要： | 阐述了半导体器件鉴定试验结果正确的重要性和研究试验技术的迫切性.对保证振动试验正确的重要因素棗振动模具的正确设计进行了分析和研究,通过研究指出了必须注意的关键问题及应采取的措施.
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| 关 键 词： | 半导体器件 可靠性 鉴定试验 振动试验 |
| 文章编号： | 1003-353X(2005)09-0039-04 |
| 收稿时间： | 2005-04-03 |
| 修稿时间： | 2005年4月3日 |
Study on the Techniques of Qualified Experiment for Semiconductor Devices--To Begin with Correcting a Wrong Result of a Qualified Experiment |
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| MA Wei-dong,SHEN Li-li,ZHU Yan-bin,LI Zhi-guo.Study on the Techniques of Qualified Experiment for Semiconductor Devices--To Begin with Correcting a Wrong Result of a Qualified Experiment[J].Semiconductor Technology,2005,30(9):39-42. |
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| Authors: | MA Wei-dong SHEN Li-li ZHU Yan-bin LI Zhi-guo |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | semiconductor device reliability qualified experiment vibrator experiment |
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