首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

AFM线宽测量不确定度的分析与评定
引用本文:韩国强,陈玉琴.AFM线宽测量不确定度的分析与评定[J].计量学报,2012,33(6):486-489.
作者姓名:韩国强  陈玉琴
作者单位:1.福州大学机械工程及自动化学院, 福建 福州 350108
2.西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室,陕西 西安 710049
3.福州大学物理与信息工程学院, 福建 福州 350108
基金项目:国家自然科学基金,福建省教育厅项目,福州大学人才基金
摘    要:详细分析了P47型原子力显微镜线宽测量不确定度的来源,给出了基于几何形状的线宽测量模型,提出了线宽测量不确定度的评定路线和方法。确定了探针针尖引起的测量不确定度是AFM线宽测量不确定度的主要来源,并对其进行了定量分析。普通Si3N4探针针尖引起的不确定度分量约占线宽总量的5%。

关 键 词:计量学  原子力显微镜  线宽  测量不确定度  

Analysis and Evaluation of AFM Uncertainty in Linewidth Measurement
HAN Guo-qiang , CHEN Yu-qin.Analysis and Evaluation of AFM Uncertainty in Linewidth Measurement[J].Acta Metrologica Sinica,2012,33(6):486-489.
Authors:HAN Guo-qiang  CHEN Yu-qin
Affiliation:1.School of Mechanical Engineering and Automatic, Fuzhou University, Fuzhou, Fujian 350108, China
2.State Key Laboratory for Manufacturing System Engineering, Xian Jiaotong University,  Xi‘an, Shanxi Xi’an 710049, China
3.School of Physics and Information Engineering, Fuzhou University, Fuzhou, Fujian 350108, China
Abstract:The sources of linewidth measurement uncertainty of AFM type P47 are analyzed in details.A new model based on geometry shape of linewidth measurement is proposed.An uncertainty evaluation method is offered according to systematic analysis results in linewidth measurement.The measurement uncertainty component caused by traditional Si3N4AFM tip is about 5% of the total linewidth.Finally,the main measurement uncertainty source- AFM tip is determined.
Keywords:Metrology  Atomic force microscopy(AFM)  Linewidth  Measurement uncertainty  
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《计量学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《计量学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号