| 基于单片机的Flash存储器坏块自动检测 |
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| 引用本文： | 王新舜,张存善,韩力英,杨振华. 基于单片机的Flash存储器坏块自动检测[J]. 电子设计工程, 2010, 18(3) |
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| 作者姓名： | 王新舜 张存善 韩力英 杨振华 |
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| 作者单位： | 河北工业大学,信息工程学院,天津,300130;河北工业大学,信息工程学院,天津,300130;河北工业大学,信息工程学院,天津,300130;河北工业大学,信息工程学院,天津,300130 |
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| 摘 要： | 在深入了解Flash存储器的基础上,采用单片机自动检测存储器无效块.主要通过读取每一块的第1、第2页内容,判断该块的好坏,并给出具体的实现过程,以及部分关键的电路原理图和C语言程序代码.该设计最终实现单片机自动检测Flash坏块的功能,并通过读取ID号检测Flash的性能,同时该设计能够存储和读取1 GB数据.
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| 关 键 词： | NAND Flash ID号 AT89C51单片机 数码管 |
Auto detection invalid block of Flash memory based on SCM |
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| WANG Xin-shun,ZHANG Cun-shan,HAN Li-ying,YANG Zhen-hua. Auto detection invalid block of Flash memory based on SCM[J]. Electronic Design Engineering, 2010, 18(3) |
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| Authors: | WANG Xin-shun ZHANG Cun-shan HAN Li-ying YANG Zhen-hua |
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