| 改进的部分扫描触发器选择的方法 |
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| 引用本文： | 熊志平,余殷雷,黄维康.改进的部分扫描触发器选择的方法[J].计算机辅助设计与图形学学报,2002,14(3):218-221. |
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| 作者姓名： | 熊志平 余殷雷 黄维康 |
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| 作者单位： | 复旦大学ASIC国家重点实验室,上海,200433 |
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| 基金项目： | 自然科学基金(60 0 73 0 3 2 )，复旦大学 ASIC国家重点实验室资助项目资助 |
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| 摘 要： | 研究了部分扫描触发器的选择，对原有的基于状态密度的方法做了一些改进，提出一种综合的，基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法，并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响，在对ISCAS 89标准电路的模拟中，该方法对大部分电路可以减少选择的扫描触发器的个数，提高测试效率和测试覆盖率。
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| 关 键 词： | 时序电路 可测性设计 部分扫描触发器选择方法 故障模拟 |
| 修稿时间： | 2001年1月18日 |
An Improved Method for Selecting Partial Scan Flip-Flops |
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| Xiong Zhiping,Yu Yinlei,Huang Weikang.An Improved Method for Selecting Partial Scan Flip-Flops[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,2002,14(3):218-221. |
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| Authors: | Xiong Zhiping Yu Yinlei Huang Weikang |
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| Abstract: | An improvement from an existing method based on state density of the sequential loops is presented. It is a comprehensive approach based on fault controllability and observability. The possible timing loss in the partial scan design is also considered. Simulation results on ISCAS 89 benchmark circuits show its good performance. It can reduce the number of selected flip flops and improve the test effectiveness and fault coverage. |
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| Keywords: | partial scan controllability observability scan flip flop selection fault simulation |
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