| NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试 |
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| 引用本文： | 胡一飞,徐中伟,谢世环.NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试[J].单片机与嵌入式系统应用,2007(3):5-8. |
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| 作者姓名： | 胡一飞 徐中伟 谢世环 |
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| 作者单位： | 同济大学，同济大学，同济大学 |
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| 摘 要： | NAND Flash以其大容量、低价格等优势迅速成为嵌入式系统存储的新宠,因此其上的文件系统研究也日益广泛.本文简要介绍了常用的NAND Flash文件系统YAFFS,并针对YAFFS在均匀损耗和掉电恢复方面进行在线测试.在给出测试结果的同时,着重研究嵌入式软件测试方案和方法;对测试结果进行分析,并提出改进方案和适用环境.
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| 关 键 词： | NAND Flash 均匀损耗 软件测试 YAFFS |
| 修稿时间： | 2006-12-01 |
In-Circuit Test of Symmetrical Consumption and Off-Power Recovery on NAND Flash |
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| Hu Yifei,Xu Zhongwei,Xie Shihuan.In-Circuit Test of Symmetrical Consumption and Off-Power Recovery on NAND Flash[J].Microcontrollers & Embedded Systems,2007(3):5-8. |
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| Authors: | Hu Yifei Xu Zhongwei Xie Shihuan |
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