| A/D转换器测试过程中频谱泄漏的抑制 |
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| 引用本文： | 孙杰,李冬梅. A/D转换器测试过程中频谱泄漏的抑制[J]. 微电子学, 2007, 37(4): 486-488,493 |
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| 作者姓名： | 孙杰 李冬梅 |
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| 作者单位： | 清华大学,微电子学研究所,北京,100084 |
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| 摘 要： | 提出了一种改进的激励波形和一种改进的频谱分析方法，用于A／D转换器的测试。改进的激励波形有效地解决了信号输入频率不确定的问题，并且能够很好地抑制噪声的干扰；改进的频谱分析方法通过对信号进行预处理，然后再进行傅里叶变换，改善了数据处理的精度。这两种方法相结合，很好地抑制了频谱泄漏，明显提高了A／D转换器测试的准确度。
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| 关 键 词： | A/D转换器 频谱泄漏 同步采样 傅里叶变换 |
| 文章编号： | 1004-3365（2007）04-0486-03 |
| 修稿时间： | 2006-11-292007-03-15 |
Suppression of Spectral Leakage in ADC Testing |
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| SUN Jie,LI Dong-mei. Suppression of Spectral Leakage in ADC Testing[J]. Microelectronics, 2007, 37(4): 486-488,493 |
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| Authors: | SUN Jie LI Dong-mei |
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| Affiliation: | Institute of Microelectronics , Tsinghua University, Beij ing 100084, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Analog-to-digital converter Spectral leakage Synchronized sampling Fourier transform |
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