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MEMS微悬臂梁在冲击环境下的可靠性
引用本文:吕劲楠,唐洁影.MEMS微悬臂梁在冲击环境下的可靠性[J].功能材料与器件学报,2008,14(1):103-106.
作者姓名:吕劲楠  唐洁影
作者单位:东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096;东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096
基金项目:解放军总装备部预研项目
摘    要:由于MEMS器件的可靠性成为MEMS产品商业化过程中一个重要问题,而冲击断裂是导致器件失效的一个重要原因.本文主要研究多晶硅微悬臂梁在冲击条件下的可靠性,文中阐述了断裂失效机理,并使用应力一强度模型对可靠度进行建模.通过实验统计在各种加速度冲击下的可靠度,并将实验实测值与理论值进行对比.

关 键 词:MEMS  冲击失效  可靠度
文章编号:1007-4252(2008)01-0103-04
修稿时间:2007年7月20日

Reliability for MEMS micro -cantilevers under shock load
LV Jin-nan,TANG Jie-ying.Reliability for MEMS micro -cantilevers under shock load[J].Journal of Functional Materials and Devices,2008,14(1):103-106.
Authors:LV Jin-nan  TANG Jie-ying
Abstract:
Keywords:
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