| 用灰色系统理论修正激光粒度测量的渐晕影响 |
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| 引用本文： | 魏永杰,葛宝臻,刘颖. 用灰色系统理论修正激光粒度测量的渐晕影响[J]. 光电工程, 2008, 35(3): 58-62 |
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| 作者姓名： | 魏永杰 葛宝臻 刘颖 |
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| 作者单位： | 天津大学,光电信息技术科学教育部重点实验室;精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学,光电信息技术科学教育部重点实验室;精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学,光电信息技术科学教育部重点实验室;精密仪器与光电子工程学院,天津,300072 |
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| 摘 要： | 激光粒度测量中,当样品到透镜的轴向距离较大时,由于透镜口径有限,会因渐晕而降低测量的精度和准确度.针对这种问题,应用灰色系统理论事先检验数据,来判断渐晕点位置,然后通过建模对渐晕点后的衍射光能信号进行灰预测,从而修正渐晕的影响.通过对距透镜不同位置处的粒子板进行测量,用灰色系统建模和无模式算法处理数据验证了该方法的有效性.这种方法可以提高距离镜头较远或覆盖范围较大的样品的测量准确度和精度.
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| 关 键 词： | 激光粒度测量 渐晕 灰预测 灰色系统理论 无模式算法 |
| 文章编号： | 1003-501X(2008)03-0058-05 |
| 收稿时间： | 2007-05-15 |
| 修稿时间： | 2007-05-15 |
Amending Vignette Effect in Laser Particle Size Measurement with Gray System Theory |
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| WEI Yong-jie,GE Bao-zhen,LIU Ying. Amending Vignette Effect in Laser Particle Size Measurement with Gray System Theory[J]. Opto-Electronic Engineering, 2008, 35(3): 58-62 |
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| Authors: | WEI Yong-jie GE Bao-zhen LIU Ying |
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| Affiliation: | WEI Yong-jie,GE Bao-zhen,LIU Ying ( Key Laboratory of Opto-Electronic Information Science , Technology,Ministry of Education,College of Precision Instrument , Opto-Electronics Engineering,Tianjin University,Tianjin 300072,China ) |
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| Abstract: | In some case,the axial distance from the sample to the lens is long in laser particle size measurement,so vignette appears because the lens aperture is limited,which reduces the measure precision and accuracy. In order to solve the problem,the gray system theory is presented to check the optical signal data to find the vignette point. And then,the signals after the vignette point are predicted by grey-prediction model. By this way,the vignette data are amended. Experiments on a particle plate were carried o... |
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| Keywords: | laser particle size measurement vignette grey-prediction gray system theory no-model algorithm |
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