同位素X荧光谱线解析法获取单一稀土元素含量的研究

利用同位素X荧光谱线解析法分析萃取过程单一稀土元素的含量。使用放射源(241)Am激发稀土元素的K系荧光.用高分辨半导体探测器直接测定槽体的全部稀土元素谱线,通过多道脉冲分析器获取X荧光能谱。由于各稀土元素有其特征荧光能量,通过能量峰位值鉴别元素的种类,经过对谱线的解析处理最终求出峰的净面积,从而给出相对含量(利用自行设计分析软件IXRF)。通过微机解谱、处理数据.由所分析结果得到:小于58/l浓度时分析误差小于20%;大于10g/l分析误差小于10%。本工作是为稀土萃取过程在线分析所完成的实验室阶段任务,从分析结果看可以满足在线分析的技术要求。