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基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现
引用本文:崔伟,冯长江,丁国宝.基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现[J].计算机测量与控制,2009,17(8):1476-1478.
作者姓名:崔伟  冯长江  丁国宝
作者单位:军械工程学院,河北,石家庄,050003
摘    要:为了将边界扫描技术构架更好地应用于电路可测性设计中,在介绍边界扫描结构、测试基本原理的基础上,提出了运用单片机模拟边界扫描时序,控制被测电路进入相应边界扫描状态的方法;利用模拟开关控制整体扫描链路的转换,同时结合现有CPLD下载电路,完成了被测电路核心逻辑、外围管脚的设置,最后实现了基于IEEE1149.1测试访问门和边界扫描结构标准的边界扫描实验系统;实验系统可以完成IEEE1149.1的所有边界扫描测试,并具有实现简单、操作灵活等特点。

关 键 词:边界扫描实验  时序模拟  互连测试  测试存取口

Design and Implementation of Boundary Scan Test System Based on Singlechip
Cui Wei,Feng Changjiang,Ding Guobao.Design and Implementation of Boundary Scan Test System Based on Singlechip[J].Computer Measurement & Control,2009,17(8):1476-1478.
Authors:Cui Wei  Feng Changjiang  Ding Guobao
Affiliation:(Ordnance Engineering College,Shijiazhaung 050003,China)
Abstract:
Keywords:
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