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显微剪切干涉表面粗糙度轮廓测量
引用本文:刘晓军,高咏生. 显微剪切干涉表面粗糙度轮廓测量[J]. 中国测试技术, 2004, 30(2): 3-5
作者姓名:刘晓军  高咏生
作者单位:1. 华中科技大学机械学院,武汉,430074
2. 香港科技大学机械工程系,香港九龙清水湾
摘    要:介绍一种显微剪切干涉仪 ,其基于剪切干涉是自干涉 ,因而具有相当的抗环境干扰和抗振动的特性 ,结合剪切干涉技术与显微干涉技术 ,实现制造环境下表面粗糙度精密测量。本文介绍了该显微剪切干涉仪的原理 ,给出了实验结果。

关 键 词:粗糙度  剪切干涉  显微干涉  抗振
文章编号:1672-4984(2004)02-0003-03

Surface roughness profile measurement using shearing microscope interference method
Abstract:
Keywords:
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