X射线衍射法测定分子筛硅铝比与结晶度 |
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作者姓名: | 沈春玉 储刚 等 |
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摘 要: | 用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度,经晶胞参数与^29Si、^27Al固体魔角核磁共振谱仪测定NaY分子筛骨架中的硅铝比关联的经验公式,得到的X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的分析方法,以便满足NaY分子筛骨架中硅铝比测定工作的需要。结果表明,测定NaY分子筛硅铝比、晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理,使其饱和吸水。
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关 键 词: | X射线衍射法 测定 分子筛 硅铝比 结晶度 晶胞参数 NaY分子筛 |
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