| 渗钒层的XRD结构深度分布分析 |
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| 引用本文： | 亓永新,李木森,张晓玲,隋金玲. 渗钒层的XRD结构深度分布分析[J]. 山东大学学报(工学版), 1999, 0(4) |
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| 作者姓名： | 亓永新 李木森 张晓玲 隋金玲 |
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| 作者单位： | 山东工业大学材料科学与工程学院!济南250061 |
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| 摘 要： | 用掠角 Ｘ 射线衍射并结合电子探针及透射电子显微镜，研究了渗钒层不同深度的结构信息，发现渗钒层由表及里晶粒由细逐渐变粗，并证实了应用传统的 Ｘ 射线衍射方法产生的α Ｆｅ 的峰是来自衬底的干扰，此外渗钒层存在部分择优取向
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| 关 键 词： | X射线衍射 涂覆 相结构 |
AN ANALYSIS OF STRUCTURE DISTRIBUTION AT DIFFERENT DEPTH OF VANADIZED LAYER |
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| Qi Yongxin Li Musen Zhang Xiaoling Sui Jinling. AN ANALYSIS OF STRUCTURE DISTRIBUTION AT DIFFERENT DEPTH OF VANADIZED LAYER[J]. Journal of Shandong University of Technology, 1999, 0(4) |
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| Authors: | Qi Yongxin Li Musen Zhang Xiaoling Sui Jinling |
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| Keywords: | X ray diffraction Coating Phase structure |
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