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| 混合信号总线测试实验 | |
| 作者姓名： | 李正光 雷加 |
| 作者单位： | [1]桂林电子工业学院，广西桂林541004 [2]怀化学院，湖南怀化418008 |
| 摘 要： | 使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的，同时指出其局限性。 |
| 关 键 词： | 混合信号电路 测试总线 测试实验 KLIC |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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