基于莫尔条纹的自准直测角技术 |
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作者姓名: | 蔡盛 乔彦峰 |
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作者单位: | 中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039;中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033 |
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摘 要: | 针对方位瞄准过程中的强光干扰问题,在结合光电自准直测角和光栅测长原理的基础上,提出了基于莫尔条纹的自准直测角方法.分析了基于莫尔条纹自准直测角原理,即利用自准光栅像和透射光栅重叠产生莫尔条纹,将角量变化转变为线量变化进行测量.根据该原理设计了光学系统,建立了基于莫尔条纹自准直测角的数学模型,给出了理论计算公式,并进行了测量精度分析.理论计算结果显示,在±15′的视场范围内,系统精度达到1″,优于采用狭缝时光电自准直测量的精度.
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关 键 词: | 光学测量 莫尔条纹 自准直 方位瞄准 |
文章编号: | 1671-7449(2007)06-0519-04 |
修稿时间: | 2007-01-12 |
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