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定向局部异质外延生长的p型金刚石膜压阻效应的研究
引用本文:
王万录,张振刚,廖克俊,吴彬,张世斌,廖梅勇.定向局部异质外延生长的p型金刚石膜压阻效应的研究[J].半导体学报,1997,18(6):474-477.
作者姓名:
王万录
张振刚
廖克俊
吴彬
张世斌
廖梅勇
作者单位:
[1]重庆大学应用物理系 [2]兰州大学物理系
摘 要:
本文研究了局部定向异质外延生长的金刚石膜的压阻效应,实验研究表明,这种膜的压阻因子在200微应变,室温下约为1300.其值大大超过了单晶硅的相应值,这是因为外延膜中缺陷态降低并且改进了测试方法,文中还简单讨论了金刚石膜压阻效应的起因.
关 键 词:
异质外延生长
金刚石膜
压阻效应
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