| 系统芯片的测试技术 |
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| 引用本文： | 熊险峰,张红南,杨献,陈为,司孝平.系统芯片的测试技术[J].半导体技术,2003,28(2):13-16. |
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| 作者姓名： | 熊险峰 张红南 杨献 陈为 司孝平 |
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| 作者单位： | 湖南大学应用物理系,湖南,长沙,410082 |
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| 摘 要： | 简述了片上系统的基本概念,分析了目前片上系统测试技术所面临的问题。对即将成为主流测试方法的内建自测试技术(BIST)进行了详尽地论述,并提出了两种新的BIST综合测试技术。
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| 关 键 词： | 内建自测试 系统芯片 可测性检测 |
| 文章编号： | 1003-353X(2003)02-0013-04 |
| 修稿时间： | 2002年5月31日 |
Testing technology of SoC |
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| XIONG Xian-feng,ZHANG Hong-nan,YANG Xian,CHEN Wei,SI Xiao-ping.Testing technology of SoC[J].Semiconductor Technology,2003,28(2):13-16. |
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| Authors: | XIONG Xian-feng ZHANG Hong-nan YANG Xian CHEN Wei SI Xiao-ping |
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| Abstract: | This paper first introduces the basic conception of SoC.Then, the difficulty of thetesting of SoC and the new trend of BIST is analyzed .At last two new technologies of BIST to solvethe testing problems are brought forward. |
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| Keywords: | built in self test( BIST) system on chip(SoC) design feasible test(DFT) |
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