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Ni-Mo合金电沉积层的X-射线光电子能谱研究
引用本文:黎向锋,左敦稳,王珉. Ni-Mo合金电沉积层的X-射线光电子能谱研究[J]. 电镀与精饰, 1999, 21(4)
作者姓名:黎向锋  左敦稳  王珉
作者单位:南京航空航天大学机电工程学院,南京,210016
摘    要:利用X-射线光电子能谱对Ni-Mo沉积层表层中Ni、Mo的存在形式进行了分析,并对其表面进行了Ar+离子刻蚀深度分析.结果表明:Ar+离子未溅射时,沉积层中的Ni和Mo分别以Ni(OH)2和MoO3(或MoO2-4)形式存在:Ar+离子溅射3 min后,沉积层中的Ni和Mo分别以NiO和MoO2形式存在;Ar+离子溅射15 min后,沉积层中的Ni和Mo分别以单质Ni和单质Mo形式存在.

关 键 词:X-射线光电子能谱  沉积层

X-Ray Photoelectron Spectroscopic Study on Electrodeposited Nickel-Molybdenum Film
Li Xiangfeng,Zuo Dunwen,Wang Min. X-Ray Photoelectron Spectroscopic Study on Electrodeposited Nickel-Molybdenum Film[J]. Plating & Finishing, 1999, 21(4)
Authors:Li Xiangfeng  Zuo Dunwen  Wang Min
Abstract:
Keywords:Ni-Mo
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