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| 俄歇能谱的基本原理及应用 | |
| 作者姓名： | 任大刚 |
| 作者单位： | 中国科学院金属研究所 |
| 摘 要： | 最近十年来,固体表面分析技术得到迅速发展。这一方面是由于六十年代以来,超高真空技术的重大进展,比较容易获得10~(10)托的超高真空,有可能制备固体的“清洁”表面。从七十年代以来,商品能谱仪器开始生产,为表面分析提供了有力的工具。另一方面,固体表面分析技术与现代科 |
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