BIST可测性设计的低功耗技术 |
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引用本文: | 李金凤,汪滢,辛晓宁. BIST可测性设计的低功耗技术[J]. 仪器仪表学报, 2003, 24(Z2): 629-630 |
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作者姓名: | 李金凤 汪滢 辛晓宁 |
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作者单位: | 1. 沈阳化工学院信息工程学院,沈阳,110142 2. 沈阳化工学院信息工程学院,沈阳,110142;中科院沈阳自动化研究所,沈阳,110016 |
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摘 要: | 在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注.本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳.
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关 键 词: | 内建自检测 片上系统 可测性 低功耗 故障覆盖率 |
Low Power Technology of BIST Testability Design |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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