| 基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略 |
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| 引用本文： | 李桂祥,杨江平,王隆刚. 基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略[J]. 现代雷达, 2003, 25(6): 1-4 |
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| 作者姓名： | 李桂祥 杨江平 王隆刚 |
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| 作者单位： | 1. 空军雷达学院雷达系统工程系,武汉,430019
2. 华中科技大学电子与信息工程系,武汉,430074 |
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| 摘 要： | 随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展，常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题，本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单，经济实用，一旦广泛使用，无疑将会有很好的军事经济效益。
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| 关 键 词： | 边界扫描 BIT 测试策略 超大规模集成电路 表面安装器件 多层印制电路板 |
| 修稿时间： | 2002-11-13 |
Design Method of PCB Built-in Test and Testing Strategy Based on Boundary Scan Technology |
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| LI Gui-xiang YANG Jiang-ping WANG Long-gang. Design Method of PCB Built-in Test and Testing Strategy Based on Boundary Scan Technology[J]. Modern Radar, 2003, 25(6): 1-4 |
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| Authors: | LI Gui-xiang YANG Jiang-ping WANG Long-gang |
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| Abstract: | With the development of VLSI , SMD and MPCB technology, the routine design method of BIT confront with the challenge. In order to solve this problem, the paper presents a posting boundary-scan parts method of PCB built-in test and testing strategy based on boundary scan technology. This method is operated simply has a practical application with a low cost, it will bring out great military and economy benefit in common use no doubt. |
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| Keywords: | boundary scan BIT testing |
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