| Mo/Cu TES超导性能表征 |
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| 引用本文： | 张宏俊,文继,莫钊洪,王新明,熊忠华,帅茂兵. Mo/Cu TES超导性能表征[J]. 核电子学与探测技术, 2020, 40(1): 33-38. DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2020.01.007 |
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| 作者姓名： | 张宏俊 文继 莫钊洪 王新明 熊忠华 帅茂兵 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900,中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900,中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900,中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900 |
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| 基金项目： | 中国工程物理研究院发展基金 |
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| 摘 要： | 为了制备满足超高分辨率射线探测要求的超导转变边界探测器,对制备的Mo薄膜和Mo/Cu薄膜表征了其超导电学特性。结果表明,制备的Mo薄膜具有较好的超导性能,Mo/Cu薄膜的ΔT达到了2.1 mK@352 mK,α值达到了335。在1 mA的电流下,该α值可以满足超高分辨射线探测的要求。
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| 关 键 词： | 超高分辨率 γ射线探测 超导薄膜 转变边界探测器 |
Characterization of Mo/Cu Superconducting Transition-Edge Sensor |
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| ZHANG Hong-jun,WEN Ji,MO Zhao-hong,WANG Xin-ming,XIONG Zhong-hua,SHUAI Mao-bing. Characterization of Mo/Cu Superconducting Transition-Edge Sensor[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2020, 40(1): 33-38. DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2020.01.007 |
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| Authors: | ZHANG Hong-jun WEN Ji MO Zhao-hong WANG Xin-ming XIONG Zhong-hua SHUAI Mao-bing |
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