| γ谱法无损测定高浓铀材料中放射性杂质含量 |
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| 引用本文： | 张宏俊,文继,任忠国,熊忠华,赵德山,帅茂兵. γ谱法无损测定高浓铀材料中放射性杂质含量[J]. 核电子学与探测技术, 2020, 40(3): 380-384. DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2020.03.001 |
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| 作者姓名： | 张宏俊 文继 任忠国 熊忠华 赵德山 帅茂兵 |
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| 作者单位： | 中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907,中国工程物理研究院材料研究所,四川江油621907 |
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| 摘 要： | 介绍了γ谱法无损测定高浓铀材料中放射性杂质的分析方法。该方法使用便携式高纯锗γ能谱仪测量高浓铀材料的γ能谱,结合放射性衰变平衡理论计算,获得了高浓铀材料中铀同位素衰变子体的质量百分含量。实验结果表明:对于存放30a的高浓铀材料,可检测出234U、235U和238U衰变产生的19种放射性子体,可测量质量百分含量低至10-17%的某些放射性子体。该方法测量结果与理论值能较好吻合,可用于高浓铀材料溯源分析研究。
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| 关 键 词： | 铀衰变子体含量 γ谱法 无损分析 核保障 |
Determination of Radioactive Impurity in HEU by NDA |
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| ZHANG Hong-jun,WEN Ji,REN Zhong-guo,XIONG Zhong-hua,ZHAO De-shan,SHUAI Mao-bing. Determination of Radioactive Impurity in HEU by NDA[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2020, 40(3): 380-384. DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2020.03.001 |
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| Authors: | ZHANG Hong-jun WEN Ji REN Zhong-guo XIONG Zhong-hua ZHAO De-shan SHUAI Mao-bing |
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