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Si3N4陶瓷材料高温氧化层的分析
引用本文:张其土,钱同生.Si3N4陶瓷材料高温氧化层的分析[J].理化检验(物理分册),1998,34(12):3-6.
作者姓名:张其土  钱同生
作者单位:南京化工大学 南京210009 (张其土),南京化工大学 南京210009(钱同生)
摘    要:利用XRD,EPMA,XPS和SEM的分析方法,研究了在1300℃下氧化后Si3N4陶瓷材料表面氧化层的组成的形貌,结果表明,Si3N4陶瓷材料的表面氧化层是由方石英相和含有Al2O3,CaO等杂质的SiO2质玻璃相所组成,其中SiO2玻璃相听Al2O3,CaO等杂质的含量随氧化时间的增加而逐渐增加,同时在氧化层的内部都还存在部分Si2N2O相。

关 键 词:氮化硅  氧化层分析  陶瓷材料  XRD  EPMA  XPS

ANALYSIS ON OXIDATION LAYER OF THE Si3N4 CERAMICS OXIDIZED AT HIGH TEMPERATURE
Zhang Qitu Qian Tongsheng.ANALYSIS ON OXIDATION LAYER OF THE Si3N4 CERAMICS OXIDIZED AT HIGH TEMPERATURE[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing,1998,34(12):3-6.
Authors:Zhang Qitu Qian Tongsheng
Affiliation:Nanjing University of Chemical Technology
Abstract:
Keywords:Silicon nitride Oxidation Analysis  
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