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类金铡石薄膜内应力的测试
引用本文:陈建国,程宇航.类金铡石薄膜内应力的测试[J].理化检验(物理分册),1998,34(2):27-28,21.
作者姓名:陈建国  程宇航
摘    要:采用射频-直流等离子增强化学气相沉积法制备出类金刚石薄膜,用弯曲法测定薄膜的内应力。类金刚石薄膜中存在1-4.7GPa的压应力,沉积工艺对薄膜的内应力有很大影响,薄膜的内应力随极板负偏压的升高而降低,随C2H2气体一的增加而增大。

关 键 词:类金刚石薄膜  内应力  薄膜  测量  PACVD
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