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流延法制备纳米SiO_2压电陶瓷的结构及性能
引用本文:卓磊,陈文革,张洋,辛菲,赵珊珊.流延法制备纳米SiO_2压电陶瓷的结构及性能[J].压电与声光,2014,36(5):775-778.
作者姓名:卓磊  陈文革  张洋  辛菲  赵珊珊
作者单位:(西安理工大学 材料科学与工程学院,陕西 西安710048)
基金项目:西安市科技计划基金资助项目(CXY1124(1))
摘    要:采用流延法使用无定型纳米SiO2原料粉制备SiO2压电陶瓷,XRD和SEM结果表明,烧结温度为850℃和950℃时未发生晶化反应,当烧结温度为1 050℃时生成α-方石英,晶粒尺寸随烧结温度的升高而长大,不同烧结温度下压电常数分别为1.1pC/N,1.2pC/N和1.4pC/N,烧结温度越高介电常数越大,机械品质因数越大,而介电损耗与烧结温度无关。

关 键 词:氧化硅  压电陶瓷  纳米粉  流延成型  低温烧结

Research on the Structure and Piezoelectric Properties of Silica Piezoelectric Nano ceramic Prepared by Tape Casting Process
ZHUO Lei,CHEN Wenge,ZHANG Yang,XIN Fei and ZHAO Shanshan.Research on the Structure and Piezoelectric Properties of Silica Piezoelectric Nano ceramic Prepared by Tape Casting Process[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2014,36(5):775-778.
Authors:ZHUO Lei  CHEN Wenge  ZHANG Yang  XIN Fei and ZHAO Shanshan
Abstract:
Keywords:
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