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导电涂膜表面微米尺度内痕量CIO-浓度测定方法的研究
引用本文:孙祖信,叶章基,吴诤,宋文桑,林仲华,吴玲玲.导电涂膜表面微米尺度内痕量CIO-浓度测定方法的研究[J].上海涂料,2001(2).
作者姓名:孙祖信  叶章基  吴诤  宋文桑  林仲华  吴玲玲
作者单位:中国船舶重工集团公司七院七二五所厦门分部 361002 (孙祖信,叶章基,吴诤,宋文桑),厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 361005 (林仲华),厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 361005(吴玲玲)
摘    要:简述采用四电极体系,锁相相关测定系统及三维微控装置,测定了电解人造海水在导电涂膜表面微米尺度内痕量C10-浓度的分布,为导电防污涂料研究的关键技术确定导电涂膜表面产生痕量C10-浓度相对应的通电参数作致关重要技术准备。

关 键 词:导电涂膜  微米尺度  痕量浓度

Research into test method of trace CIO~- concentration within micrometer scale of conductive film surface
Sun Zuxin,Ye Zhangji,Wu Zheng,Song Wensang.Research into test method of trace CIO~- concentration within micrometer scale of conductive film surface[J].Shanghai Coatings,2001(2).
Authors:Sun Zuxin  Ye Zhangji  Wu Zheng  Song Wensang
Abstract:By means of four electrode system, phase lock correlation system and three - dimensional mi-crocontrolled installation, we measure the distribution of electrolytic artificial sea water in trace ClO-concentration with micrometer scale of conductive film surface so as to provide utmostly important preparation for determing electrified parameter corresponding to trace ClO- concentration generated on conductive film surface.
Keywords:conductive film  micrometer scale  trace concentration
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