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光学式微小线宽测量装置 这是一种测量由光致抗蚀剂制成的半导体微细图形线宽的装置。 其特点:(1)采用由自己研制的氙灯做成的共焦光学系统;(2)利用配置针孔较为理想的双盘,可同时得到100点、120点以上的共焦点,能实现40枚/小时以上的(8英寸晶片
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