| ESPI技术测量静态和准动态面内位移 |
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| 引用本文： | 杨福俊,何小元,庄春泉.ESPI技术测量静态和准动态面内位移[J].光电子．激光,2003,14(10):1070-1073. |
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| 作者姓名： | 杨福俊 何小元 庄春泉 |
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| 作者单位： | 1. 东南大学工程力学系,江苏,南京,210096
2. 南京航空航天大学智能材料研究所,江苏,南京,210016 |
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| 摘 要： | 利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法，研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术。采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术，实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理，提高了散斑条纹的对比度和清晰度，为条纹图的定量处理提供了方便。
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| 关 键 词： | ESPI 高速CCD摄像 电子散斑图干涉 小光圈成像 图像处理 准动态面内位移测量 静态面内位移测量 |
| 文章编号： | 1005-0086(2003)10-1070-04 |
| 修稿时间： | 2002年11月11 |
Measurement of Quasi-dynamic in-Plane Displacement of Thin Plate Using ESPI Technique |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high-speed CCD photography electronic speckle pattern interferometry(ESPI) dynamic in-plane displacement measurement image processing |
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