首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
电子设备可靠性的Bayes评估及检验
作者姓名:
徐学标 岳琳
作者单位:
[1]上海大学 [2]北京航空航天大学
摘 要:
本文介绍了小子样电子设备的Bayes可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础,结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。
关 键 词:
可靠性 Bayes分布 假设检验 电子设备
本文献已被
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号