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| 电子设备可靠性的Bayes评估及检验 | |
| 作者姓名： | 徐学标 岳琳 |
| 作者单位： | [1]上海大学 [2]北京航空航天大学 |
| 摘 要： | 本文介绍了小子样电子设备的Ｂａｙｅｓ可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础，结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。 |
| 关 键 词： | 可靠性 Bayes分布 假设检验 电子设备 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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