| 一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法 |
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| 引用本文： | 刘启能.一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法[J].激光与红外,2008,38(8):799-801. |
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| 作者姓名： | 刘启能 |
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| 作者单位： | 重庆工商大学计信学院,重庆,400067 |
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| 基金项目： | 教育部工程研究中心重点项目 |
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| 摘 要： | 为了解析地研究一维光子晶体的缺陷模,利用多光束干涉原理和布洛赫定理,推导出一维光子晶体缺陷模的解析公式.利用它对一维光子晶体的缺陷模进行了解析研究,得到了缺陷模的变化规律.这一方法克服了特征矩阵法和F-P法不能对缺陷模进行解析分析的弱点,是一种研究一维光子晶体缺陷模的精确和有效的方法.
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| 关 键 词： | 光电子学 光子晶体 缺陷模 解析方法 |
A New Method of Study the Defect Mode of One-dimensional Photonic Crystal |
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| LIU Qi-neng.A New Method of Study the Defect Mode of One-dimensional Photonic Crystal[J].Laser & Infrared,2008,38(8):799-801. |
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| Authors: | LIU Qi-neng |
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| Affiliation: | Calculator Science College of Chongqing Technology and Business University,Chongqing 400067,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | optoelectronics photonic crystal defect mode analytic method |
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