4项科研成果喜获“上海市科技进步奖”

正2016年4月18日,上海市人民政府在上海展览中心召开2015年度上海市科技奖励大会,上海市领导韩正、杨雄等为上海科技发展和现代化建设做出突出贡献的科技工作者颁奖。上海市计量测试技术研究院有4项科研项目获奖,其中二等奖2项,三等奖2项。《纳米标准装置与定标技术应用》项目获得上海市科技进步二等奖。项目成果广泛应用于半导体公司以及科研院所,为微、纳米技术研究与应用的相关企业提供校准和检测服务。项