| 激光二极管寿命测试方法研究 |
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| 引用本文： | 苏美开,高稚允,左 昉,刘秉琦. 激光二极管寿命测试方法研究[J]. 激光与红外, 2004, 34(2): 124-127 |
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| 作者姓名： | 苏美开 高稚允 左 昉 刘秉琦 |
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| 作者单位： | 北京理工大学光电工程系,北京,100081;北京理工大学光电工程系,北京,100081;北京理工大学光电工程系,北京,100081;北京理工大学光电工程系,北京,100081 |
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| 摘 要： | 文中介绍了半导体激光二极管(LD) 寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此设计了LD 高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD 的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD 的老化曲线,即恒流条件下的P - t 曲线,或通过采集恒功工作LD 的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I - t 曲线,然后推断LD 正常条件下的使用寿命。
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| 关 键 词： | 激光二极管 高温老化 寿命测试 激活能 |
| 文章编号： | 1001-5078(2004)02-0124-04 |
Study on the Method of Laser Diode Life Testing |
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| SU Mei-kai,GAO Zhi-yun,ZUO Fang,LIU Bing-qi. Study on the Method of Laser Diode Life Testing[J]. Laser & Infrared, 2004, 34(2): 124-127 |
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| Authors: | SU Mei-kai GAO Zhi-yun ZUO Fang LIU Bing-qi |
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| Abstract: | The theory of Laser Diode life testing and mathematic model of life testing were introduced , and a high-temperature accelerating LDs automatic life testing system was developed from these. By sampling the power/ current of LDs ,which works under automatic current control (ACC) / automatic power control (APC) , power2time (P2t) / current2time ( I2t) curve of LDs is ploted , and thus concludes the normal working life of LDs. |
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| Keywords: | laser diode high-temperature burn-in life testing active energy |
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