| 扫描电镜研究分子筛形貌中制样方法及试验条件对图像质量的影响 |
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| 作者姓名： | 黄文氢 张颖 张友稳 刘莲英 杨万泰 |
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| 作者单位： | 1. 北京化工大学材料科学与工程学院,北京,100029;中国石油化工股份有限公司北京化工研究院,北京,100013
2. 中国石油化工股份有限公司北京化工研究院,北京,100013
3. 北京化工大学材料科学与工程学院,北京,100029 |
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| 摘 要： | 电子显微镜观察分子筛形貌及结构是分子筛表征中最直观有效的方法.借助透射电镜(TEM)可以看到分子筛孔道的排列状况,扫描电镜(SEM)观察可以直观检测分子筛颗粒形貌或晶粒晶貌.本文着重研究了MCM-41分子筛制样方法及测试条件对扫描电镜图像质量的影响.在制备不同应用目的分子筛样品过程中,要根据不同条件设计制备方法,设置最佳的试验条件才能获取质量好的扫描电镜图像.
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| 关 键 词： | 扫描电镜 图像质量 制样方法 试验条件 MCM-41 扫描电镜研究 分子筛 筛形 制样方法 试验条件 图像质量 影响 Research Morphology Molecular Sieve Settings Parameter Apparatus Sample Preparation Quality Photograph 扫描电镜图像 最佳 设置 设计 |
| 收稿时间： | 2007-05-16 |
| 修稿时间： | 2007-05-16 |
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