首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于单片机的双波长红外测温结构设计
引用本文:关国坚,甘志银.基于单片机的双波长红外测温结构设计[J].机电一体化,2012,18(4):57-62.
作者姓名:关国坚  甘志银
作者单位:华中科技大学机械科学与工程学院,武汉430074;广东昭信半导体装备制造有限公司,佛山528200
基金项目:2010年广东省重大科技专项
摘    要:为了解决双波长测温不同波长的变换和精确定位测量的问题,设计了一种基于单片机的变换结构,利用电机匀速反馈控制电路和单片机周期捕获功能,准确跟踪和定位采样位置。基于这种结构提出了一种双波长测温法的暗电流电压修正方法,大大提高了测量的精度。通过实验使用设计的测量结构拟合出双波长温度测量函数,测量精度在1℃之内。

关 键 词:双波长测温  波长变换结构  反馈控制  单片机  暗电流修正

Structural Design of Dual-wavelength Colorimeter Based on the Single Chip
Abstract:Aimed at solving the problem of wavelength changing and position locating for dual-wavelength colorimeter, a wavelength changing-over design with high precise position using motor feedback control circuit and programmable counter array (PCA) circle capture based on the single chip is proposed. Meanwhile, a dark circuit correction algorithm is analyzed, with which the measurement precision is greatly improved. Finally, the function of the measurement is completed by experiment, with precision within 1℃.
Keywords:dual-wavelength colorimeter wavelength changing-over mechanism feedback control single chip dark circuit correction algorithm
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号