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| 测量薄膜材料n、H、d的简易方法及其在低温测量中的应用 | |
| 引用本文： | 冯伟亭,严义埙.测量薄膜材料n、H、d的简易方法及其在低温测量中的应用[J].红外与毫米波学报,1990,9(1). |
| 作者姓名： | 冯伟亭 严义埙 |
| 作者单位： | 中国科学院上海技术物理研究所，中国科学院上海技术物理研究所 上海，200083，上海，200083 |
| 摘 要： | 介绍了一种测定薄膜材料光学常数的简易方法,它的最大优点是只需要知道薄膜材料的透射光谱。薄膜的光学常数和厚度测试精度优于1%,并给出了PbTe、ZnSe薄膜在室温及低温下的折射率。 |
| 关 键 词： | 薄膜材料 光学常数 PbTe ZnSe |
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