| 水稻不同品种叶表面硅质细胞的扫描电镜观察 |
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| 引用本文： | 杨秉耀,陈新芳,刘向东,郭海滨. 水稻不同品种叶表面硅质细胞的扫描电镜观察[J]. 电子显微学报, 2006, 25(2): 146-150 |
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| 作者姓名： | 杨秉耀 陈新芳 刘向东 郭海滨 |
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| 作者单位： | 华南农业大学;华南农业大学 |
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| 摘 要： | 应用扫描电子显微镜对8个不同品种的水稻（Oryza sativa L.）叶片表面硅质细胞的形态结构进行了观察,并首次用X射线能谱分析其硅含量.结果发现8个品种间叶片表面硅质细胞形态结构和硅元素含量差异明显,四倍体品种不但硅质细胞大,而且硅元素含量也较高,其中矮脚南特-4x叶片表面硅质细胞表面积最大,达301.40mm^2,硅元素相对含量也最高,为32.77 wt.%;广陆矮4号-4x硅质细胞表面积次之,为192.50mm^2,硅元素相对含量为25.80 wt.%.这2个四倍体品种的气孔硅乳突数都是8个,比二倍体品种多1倍.四倍体品种田间表现植株直立、基部通风性好、抗倒伏能力和抗病虫性均较强.二倍体品种零轮、P23、L202、D27 F2（野生稻杂种）、华粳籼74和E5等品种硅质细胞表面积明显比四倍体的小,平均小3.6倍;硅元素含量也较低,平均比四倍体的低1.4倍;抗性较2个四倍体水稻品种差.本文的结果初步说明水稻叶片硅质细胞大小和含量与抗性可能存在密切的相关.
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| 关 键 词： | 水稻叶片 硅质细胞 硅元素 扫描电子显微镜 |
| 文章编号： | 1000-6281（2006）02-0146-05 |
| 收稿时间： | 2005-10-15 |
| 修稿时间： | 2005-10-15 |
Observation of silicon cells on the leave surface in different varieties of rices |
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| YANG Bing-yao,CHEN Xin-fang,LIU Xiang-dong,GUO Hai-bin. Observation of silicon cells on the leave surface in different varieties of rices[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2006, 25(2): 146-150 |
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| Authors: | YANG Bing-yao CHEN Xin-fang LIU Xiang-dong GUO Hai-bin |
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| Affiliation: | 1 Electric Microscope Laboratory, South China Agricultural University, Guangdong Guangzhou 510642; 2 Guangdong Provincial Key Laboratory of Plant Molecular Breeding, South China Agricultural University, Guangdong Guangzhou 510642, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | rice blade silicon cell silicon scanning electron microscope |
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