首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

低压金属有机化合物气相外延生长的(AlxGa1-x)0.51In0.49P折射率测量
摘    要:


Measurement of Refractive Indices of (AlxGa1-x)0.51In0.49P Grown by Low Pressure Organometallic Vapor Phase Epitaxy
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号