基于ADM谱反演的高分辨率裂缝预测技术研究及应用

从谱反演基本原理出发,推导出多层稀疏反射系数目标函数,利用基追踪交替方向法(Alternating Direction Method,ADM)谱反演算法求取高精度反射系数,与谱模拟解析法提取的宽频子波褶积重构,得到保持低频信息的高分辨率剖面,利用改进型特征值相干体算法对此剖面进行裂缝预测。理论测试和实际资料应用结果表明,ADM谱反演高分辨率技术能得到极性、位置准确性较高的反射系数,而重构后的宽频剖面分辨率明显提高、同相轴连续性更好、断点更清晰、断层更明了,相干体切片精度更高、细节刻画更清晰,可作为裂缝预测的重要技术手段。