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MOSFET衬底电流模型在深亚微米尺寸下的修正
引用本文:孙自敏,刘理天,李志坚.MOSFET衬底电流模型在深亚微米尺寸下的修正[J].半导体学报,2000,21(2).
作者姓名:孙自敏  刘理天  李志坚
作者单位:清华大学微电子所北京 100084
摘    要:建立精确的衬底电流模型是分析MOSFET器件及电路可靠性和进行MOSFET电路设计所必需的.在分析载流子输运的基础上建立了一个常规结构深亚微米MOSFET衬底电流的解析模型,模型公式简单.对模型进行了验证,研究了衬底掺杂浓度与栅氧化层厚度对拟合因子的影响,并分析了模型中拟合因子的物理意义.

关 键 词:MOSFET  衬底电流  深亚微米

Modification of MOSFET's Substrate Current Model in Deep Submicrometer Regime
Abstract:
Keywords:
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