| 基于可靠性及噪声约束的电源／ 地线优化设计 |
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| 引用本文： | 李春辉,范明钰,庄昌文,虞厥邦,黄劲.基于可靠性及噪声约束的电源／ 地线优化设计[J].半导体学报,2000,21(8). |
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| 作者姓名： | 李春辉 范明钰 庄昌文 虞厥邦 黄劲 |
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| 作者单位： | 1. 电子科技大学光电子技术系，成都 610054，中国
2. Arnbow Corp., 2701 North Western Parkway, Santa Clara, CA 95051, USA |
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| 摘 要： | 电源/地线(P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路(VLSl)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题.通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析,提出了一种时间复杂度为O(N2m)基于最小代价生成树(MST)和改进的Prim算法的快速构造算法.实验结果表明,该算法在满足同样的性能约束条件下能有效地减小布线面积.
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| 关 键 词： | 优化设计 电源线/地线 可靠性 噪声约束 |
Optimum Design of Power and Ground Topology Subject to Reliability and Noise Constraints |
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| CHEN Xu-yun,ZHENG Jin-shan,ZHOU Ting,ZHANG Qian-ling,HUANG Jin.Optimum Design of Power and Ground Topology Subject to Reliability and Noise Constraints[J].Chinese Journal of Semiconductors,2000,21(8). |
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| Authors: | CHEN Xu-yun ZHENG Jin-shan ZHOU Ting ZHANG Qian-ling HUANG Jin |
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