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| 导电杆失效分析 | |
| 引用本文： | 孙静,王全,胡斌,胡会能.导电杆失效分析[J].材料工程,2003(Z1):174-175,161. |
| 作者姓名： | 孙静 王全 胡斌 胡会能 |
| 作者单位： | 航天材料及工艺研究所,北京,100076 |
| 摘 要： | 通过对导电环的分析,确认导电杆开路失效的原因是导电环引出线在与导电环焊点处开裂所致.开裂的原因一是导电环内部灌注的环氧树脂在固化过程中产生一定内应力,二是环氧树脂与导电环的膨胀系数相差较大,在温循试验过程中(特别是低温时)又产生较大的热应力,三是环氧树脂在低温下材质变脆.在这些因素的共同作用下,环氧树脂在与导电环的接合面裂开,在裂开的同时在焊点处产生很大的应力而最终将焊点拉断. |
| 关 键 词： | 导电杆 焊接 断裂 |
| 文章编号： | 1001-4381(2003)suppl-0174-02 |
| 修稿时间： | 2002年11月20日 |
Failure Analysis on a Conduct Rod |
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