| 基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法 |
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| 引用本文： | 肖艳梅,陆锋,解维坤.基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法[J].测试技术学报,2019,33(1):88-92. |
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| 作者姓名： | 肖艳梅 陆锋 解维坤 |
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| 作者单位： | 江南大学 物联网工程学院,江苏 无锡 214122;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035;江南大学 物联网工程学院,江苏 无锡 214122;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035;江南大学 物联网工程学院,江苏 无锡 214122;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035 |
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| 摘 要： | 对于现场可编程门阵列FPGA,测试配置时间远大于加测试向量的时间,为实现FPGA快速配置测试,本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式),并结合FPGA多帧写位流压缩方法对电路测试配置的编程加载时间进行优化;以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证,测试数据表明:采用V93000SoC测试系统的4X配置方式,FPGA的单次配置时间减少了74.1%;为了满足量产测试对于测试时间的要求,进一步提出V93000的4X配置方式与FPGA的位流压缩相结合的方法,FPGA的单次配置时间由1.047s减少到47.834ms,测试时间压缩了95.5%.该方法有效减少了FPGA单次测试时间,提高了在系统配置速度.
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| 关 键 词： | 自动测试设备 现场可编程门阵列 4X配置方式 多帧写位流压缩 测试配置时间 |
A Method to Optimize the Test Time of FPGA Based on V93000 |
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| XIAO Yanmei,LU Feng,XIE Weikun.A Method to Optimize the Test Time of FPGA Based on V93000[J].Journal of Test and Measurement Techol,2019,33(1):88-92. |
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| Authors: | XIAO Yanmei LU Feng XIE Weikun |
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| Affiliation: | (College of Internet of Things,Jiangnan University,Wuxi 214122,China;China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214035,China) |
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| Abstract: | XIAO Yanmei;LU Feng;XIE Weikun(College of Internet of Things,Jiangnan University,Wuxi 214122,China;China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214035,China) |
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| Keywords: | automated test equipment field programmable gate array 4X configuration bitstream compression test configuration time |
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