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fmax为30.8GHz的超薄Al2O3绝缘栅GaN MOS-HEMT器件
引用本文:郝跃,岳远征,冯倩,张进城,马晓华,倪金玉. fmax为30.8GHz的超薄Al2O3绝缘栅GaN MOS-HEMT器件[J]. 半导体学报, 2007, 28(11): 1674-1678
作者姓名:郝跃  岳远征  冯倩  张进城  马晓华  倪金玉
作者单位:西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安 710071
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:报道了一种利用原子层淀积(ALD)生长超薄(3.5nm)Al2O3为栅介质的高性能AlGaN/GaN金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管(MOS-HEMT).新型AlGaN/GaN MOS-HEMT器件栅长1μm,栅宽120μm,栅压为 3.0V时最大饱和输出电流达到720mA/mm,最大跨导达到130mS/mm,开启电压保持在-5.0V,特征频率和最高振荡频率分别为10.1和30.8GHz.

关 键 词:AlGaN/GaN  MOS-HEMT  超薄Al2O3  AlGaN/GaN  MOS-HEMT  ultrathin Al2O3  超薄  绝缘栅  器件  Dielectric  unity  drain current  gain  cutoff frequency  oscillation  bias  reach  device  maximum  transconductance  decreasing  thickness  gate dielectric  oxide  report  high electron mobility
文章编号:0253-4177(2007)11-1674-05
修稿时间:2007-07-02

GaN MOS-HEMT Using Ultrathin Al2O3 Dielectric with fmax of 30.8GHz
Hao Yue,Yue Yuanzheng,Feng Qian,Zhang Jincheng,Ma Xiaohua and Ni Jinyu. GaN MOS-HEMT Using Ultrathin Al2O3 Dielectric with fmax of 30.8GHz[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(11): 1674-1678
Authors:Hao Yue  Yue Yuanzheng  Feng Qian  Zhang Jincheng  Ma Xiaohua  Ni Jinyu
Affiliation:Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China;Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China;Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China;Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China;Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China;Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices,Xidian University,Xi'an 710071, China
Abstract:
Keywords:AlGaN/GaN  MOS-HEMT  ultrathin Al2O3
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