硬盘驱动器磁头静电放电的灵敏度测试

提高硬盘密度的竞赛导致盘读头中传感器更小,灵敏度更高。近年来,读头中感应式传感器已为磁阻式传感器(MR)所取代。MR传感器阻抗随盘面磁场而改变,硬盘驱动器将盘面磁场转换为数字数据。现在,MR传感器,或者说磁头,给极高灵敏度磁阻式巨传感器(GMR)开辟了道路。(本文的词汇“传感器MR”以及“磁头”是相通的。) GMR磁头,即薄膜半导体,恰好可认为是最好的静电放电(ESD)检测器。因此,GMR磁头制造厂对他们产品的ESD敏感性进行检验,采用更牢靠的设计,以期在市场中获利。能经受更大的放电而不损坏或者传输曲线变化较少的磁头将对硬盘驱动器制造厂更具有吸引力。 GMR磁头对静电敏感也使得硬盘驱动器制造厂甚为头疼。驱动器制造厂利用这些测试结果决定哪种GMR磁头可在新的驱动器设计中采用。测试也指明驱动制造厂需在他们的装配区域使用何种程序的ESD