| 压电双晶片参数及温度特性的动态测试方法 |
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| 引用本文： | 叶会英,浦昭邦. 压电双晶片参数及温度特性的动态测试方法[J]. 仪器仪表学报, 2000, 21(6): 592-596 |
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| 作者姓名： | 叶会英 浦昭邦 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,哈尔滨,150001 |
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| 摘 要： | 本文提出一种压电材料参数动态测试模型，用于测量压电双晶片的几个主要材料参数：压电应变常数ｄ３１、机电耦合系数ｋ３１、介电常数ε３３＾Ｔ、弹性柔顺系数ｓ１１＾Ｅ及材料参数的温度特性。本文的这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法，是直接由一种实用元件－压电双晶片（非标准试样）测量压电材料的参数。文中详细描述了测试原理、测试步骤及一种实际试样的测试结果。理论与实验结果表明：这种新的测试
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| 关 键 词： | 压电双晶片 参数测量 动态测试 温度特性 |
The Method of Dynamic Measurement for Piezoelectric Parameters and the Dependence of Temperature of Piezoelectric Bimorphs |
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| Yie Huiying,Pu Zhaobang. The Method of Dynamic Measurement for Piezoelectric Parameters and the Dependence of Temperature of Piezoelectric Bimorphs[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2000, 21(6): 592-596 |
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| Authors: | Yie Huiying Pu Zhaobang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Piezoelectric bimorphs Measurement of parameters Dynamic testing model Testing the dependence of temperature |
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